角分辨光电子能谱的实验技术与数据分析

活动时间： 01月29日14时00分       

地            点  ： 理科群二号楼B409

讲座内容：

角分辨光电子能谱（ARPES）是研究材料表面电子结构的有效测试手段，而VG Scienta 的DA30 系列分析器是一种新型能量分析器，优点在于无需转动样品角度就能收集30°立体角电子的信号，方便快捷。基于仪器的性能和实验经验，这次报告的主要内容由下面三个部分构成。首先从ARPES原理和DA30原理开始介绍，认识和了解这个研究领域。下面介绍仪器性能与样品测试，包括测试仪器的能量分辨率，角度分辨率，和标准样品Cu(111)，Ag(111) 测试与数据矫正。最后，介绍相关实验软件的使用，包括SES软件的数据采集，Igor软件的二维、三维数据调取和Matlab软件的编程等。

主讲人介绍：

马晓川，2013年至今于中国科学技术大学物理学院物理系硕博连读。2018年在《Nature Materials》杂志上发表学术论文，影响因子39.2。重要成果：1）利用低温分子束外延技术成功制备出了具有拉伸晶格结构的单层锡烯。首次发现单层锡烯可以表现出与石墨烯完全一致的平面蜂窝状结构，其单胞中AB位原子无高度差，形成理想的纯平六角蜂窝晶格，为碳基石墨烯家族添加了锡基成员。2）熟练掌握角分辨光电子能谱仪器性能、数据处理和相关软件的使用方法。

发布时间：2019-01-27 11:15:46